源与薄膜间距对<bold>β</bold>射线面密度测量精度的影响
β射线面密度测量仪广泛应用于锂电池涂布工序中极片面密度的在线测量。研究发现，当β源与探测器距离固定时，源与薄膜间距的变化会显著影响面密度测量精度。通过Geant4蒙特卡罗模拟发现，该影响主要源于薄膜对β射线的散射作用。模拟比较了三种准直器几何模型（探测器侧单准直器、源侧单准直器、源探测器双侧准直器）下源与薄膜间距变化1 mm时面密度测量的平均偏差，结果表明源侧单准直器几何模型下的偏差最小。并根据模拟结果进行了实验验证，改进装置后，源与薄膜间距变化1 mm导致的面密度最大测量偏差从约13.3%降至3.5%。研究结果为降低锂电池极片在线测量误差提供了参考。...
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| Main Authors: | , , , , |
|---|---|
| Format: | Article |
| Language: | zho |
| Published: |
Science Press
2025-05-01
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| Series: | He jishu |
| Subjects: | |
| Online Access: | https://www.sciengine.com/doi/10.11889/j.0253-3219.2025.hjs.48.240387 |
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