О механизме рекристаллизации халькогенидов висмута при фотонной обработке некогерентным излучением

Цель работы: Выявление природы и систематизация механизмов формирования градиентной структуры в приповерхностном слое халькогенида висмута при фотонной обработке некогерентным излучением ксеноновых ламп. Экспериментальная часть: Методами просвечивающей электронной микроскопии, рентгеновской дифра...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Main Authors: Евгений Константинович Белоногов, Сергей Борисович Кущев, Дмитрий Владимирович Сериков, Сергей Анатольевич Солдатенко, Татьяна Леонидовна Тураева
Format: Article
Language:English
Published: Voronezh State University 2025-06-01
Series:Конденсированные среды и межфазные границы
Subjects:
Online Access:https://journals.vsu.ru/kcmf/article/view/12764/13033
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
_version_ 1849428424232271872
author Евгений Константинович Белоногов
Сергей Борисович Кущев
Дмитрий Владимирович Сериков
Сергей Анатольевич Солдатенко
Татьяна Леонидовна Тураева
author_facet Евгений Константинович Белоногов
Сергей Борисович Кущев
Дмитрий Владимирович Сериков
Сергей Анатольевич Солдатенко
Татьяна Леонидовна Тураева
author_sort Евгений Константинович Белоногов
collection DOAJ
description Цель работы: Выявление природы и систематизация механизмов формирования градиентной структуры в приповерхностном слое халькогенида висмута при фотонной обработке некогерентным излучением ксеноновых ламп. Экспериментальная часть: Методами просвечивающей электронной микроскопии, рентгеновской дифрактометрии, фотометрии исследованы полупроводниковые термоэлектрические ветви на основе твердых растворов Bi2Te3−Bi2Se3. Рассмотрена природа наноструктурирования и формирования градиентного слоя в приповерхностной области термоэлектрика Bi2Te3-хSeх при фотонной обработке некогерентным излучением ксеноновых ламп. Выводы: Показано, что эти процессы могут быть обусловлены последовательностью самостоятельных процессов: ростом концентрации свободных электронов, снижением порога дефектообразования, локализация в скин-слое высокого градиента температуры, генерацией и распространением звуковых фононов, собирательной и вторичной рекристаллизацией, образованием нанокристаллической фазы в системе Bi-Te-Se
format Article
id doaj-art-31a051e79bf04718ac3c0200238f1b73
institution Kabale University
issn 1606-867X
language English
publishDate 2025-06-01
publisher Voronezh State University
record_format Article
series Конденсированные среды и межфазные границы
spelling doaj-art-31a051e79bf04718ac3c0200238f1b732025-08-20T03:28:43ZengVoronezh State UniversityКонденсированные среды и межфазные границы1606-867X2025-06-0127210.17308/kcmf.2025.27/12764О механизме рекристаллизации халькогенидов висмута при фотонной обработке некогерентным излучениемЕвгений Константинович Белоногов0https://orcid.org/0000-0002-0216-0986Сергей Борисович Кущев1https://orcid.org/0000-0003-1263-1806Дмитрий Владимирович Сериков2https://orcid.org/0000-0002-0464-3500Сергей Анатольевич Солдатенко3https://orcid.org/0000-0002-3927-2738Татьяна Леонидовна Тураева4https://orcid.org/0000-0002-6126-1605ФГБОУ ВО «Воронежский государственный технический университет», ул. 20-летия Октября, 84, Воронеж 394006, Российская Федерация; ФГБОУ ВО «Воронежский государственный университет», Университетская пл., 1, Воронеж 394018, Российская ФедерацияФГБОУ ВО «Воронежский государственный технический университет», ул. 20-летия Октября, 84, Воронеж 394006, Российская ФедерацияООО «Воронежское конструкторское бюро средств связи», ул. Краснодонская, 16Б, Воронеж 394019, Российская ФедерацияФГБОУ ВО «Воронежский государственный технический университет», ул. 20-летия Октября, 84, Воронеж 394006, Российская ФедерацияФГБОУ ВО «Воронежский государственный технический университет», ул. 20-летия Октября, 84, Воронеж 394006, Российская ФедерацияЦель работы: Выявление природы и систематизация механизмов формирования градиентной структуры в приповерхностном слое халькогенида висмута при фотонной обработке некогерентным излучением ксеноновых ламп. Экспериментальная часть: Методами просвечивающей электронной микроскопии, рентгеновской дифрактометрии, фотометрии исследованы полупроводниковые термоэлектрические ветви на основе твердых растворов Bi2Te3−Bi2Se3. Рассмотрена природа наноструктурирования и формирования градиентного слоя в приповерхностной области термоэлектрика Bi2Te3-хSeх при фотонной обработке некогерентным излучением ксеноновых ламп. Выводы: Показано, что эти процессы могут быть обусловлены последовательностью самостоятельных процессов: ростом концентрации свободных электронов, снижением порога дефектообразования, локализация в скин-слое высокого градиента температуры, генерацией и распространением звуковых фононов, собирательной и вторичной рекристаллизацией, образованием нанокристаллической фазы в системе Bi-Te-Sehttps://journals.vsu.ru/kcmf/article/view/12764/13033фотонная обработкарекристаллизацияэлектронно-микроскопическое изображениерентгеновская дифрактометриянаноструктурированный слойдефекты кристаллической решеткихалькогениды висмута
spellingShingle Евгений Константинович Белоногов
Сергей Борисович Кущев
Дмитрий Владимирович Сериков
Сергей Анатольевич Солдатенко
Татьяна Леонидовна Тураева
О механизме рекристаллизации халькогенидов висмута при фотонной обработке некогерентным излучением
Конденсированные среды и межфазные границы
фотонная обработка
рекристаллизация
электронно-микроскопическое изображение
рентгеновская дифрактометрия
наноструктурированный слой
дефекты кристаллической решетки
халькогениды висмута
title О механизме рекристаллизации халькогенидов висмута при фотонной обработке некогерентным излучением
title_full О механизме рекристаллизации халькогенидов висмута при фотонной обработке некогерентным излучением
title_fullStr О механизме рекристаллизации халькогенидов висмута при фотонной обработке некогерентным излучением
title_full_unstemmed О механизме рекристаллизации халькогенидов висмута при фотонной обработке некогерентным излучением
title_short О механизме рекристаллизации халькогенидов висмута при фотонной обработке некогерентным излучением
title_sort о механизме рекристаллизации халькогенидов висмута при фотонной обработке некогерентным излучением
topic фотонная обработка
рекристаллизация
электронно-микроскопическое изображение
рентгеновская дифрактометрия
наноструктурированный слой
дефекты кристаллической решетки
халькогениды висмута
url https://journals.vsu.ru/kcmf/article/view/12764/13033
work_keys_str_mv AT evgenijkonstantinovičbelonogov omehanizmerekristallizaciihalʹkogenidovvismutaprifotonnojobrabotkenekogerentnymizlučeniem
AT sergejborisovičkuŝev omehanizmerekristallizaciihalʹkogenidovvismutaprifotonnojobrabotkenekogerentnymizlučeniem
AT dmitrijvladimirovičserikov omehanizmerekristallizaciihalʹkogenidovvismutaprifotonnojobrabotkenekogerentnymizlučeniem
AT sergejanatolʹevičsoldatenko omehanizmerekristallizaciihalʹkogenidovvismutaprifotonnojobrabotkenekogerentnymizlučeniem
AT tatʹânaleonidovnaturaeva omehanizmerekristallizaciihalʹkogenidovvismutaprifotonnojobrabotkenekogerentnymizlučeniem