ВНЕДРЕНИЕ ФУНКЦИОНАЛЬНЫХ НЕИСПРАВНОСТЕЙ ОЗУ В ОПИСАНИЯ ЦИФРОВЫХ УСТРОЙСТВ НА ЯЗЫКЕ VHDL
Рассматривается проблема описания моделей функциональных неисправностей оперативных запоминающих устройств при помощи языка VHDL. Предлагается методика внедрения моделей функциональных неисправностей ОЗУ в проектные описания цифровых устройств на языке VHDL. Показывается, что предложенная методика м...
Saved in:
| Format: | Article |
|---|---|
| Language: | Russian |
| Published: |
National Academy of Sciences of Belarus, the United Institute of Informatics Problems
2018-10-01
|
| Series: | Informatika |
| Online Access: | https://inf.grid.by/jour/article/view/564 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| _version_ | 1849240281016172544 |
|---|---|
| collection | DOAJ |
| description | Рассматривается проблема описания моделей функциональных неисправностей оперативных запоминающих устройств при помощи языка VHDL. Предлагается методика внедрения моделей функциональных неисправностей ОЗУ в проектные описания цифровых устройств на языке VHDL. Показывается, что предложенная методика может быть применена для оценки поведения цифрового устройства при наличии в нем дефектов, а также для верификации алгоритмов тестирования и контроля ОЗУ. |
| format | Article |
| id | doaj-art-237fdff6cc374d44908b8b47ec506ad5 |
| institution | Kabale University |
| issn | 1816-0301 |
| language | Russian |
| publishDate | 2018-10-01 |
| publisher | National Academy of Sciences of Belarus, the United Institute of Informatics Problems |
| record_format | Article |
| series | Informatika |
| spelling | doaj-art-237fdff6cc374d44908b8b47ec506ad52025-08-20T04:00:40ZrusNational Academy of Sciences of Belarus, the United Institute of Informatics ProblemsInformatika1816-03012018-10-0102(18)8191530ВНЕДРЕНИЕ ФУНКЦИОНАЛЬНЫХ НЕИСПРАВНОСТЕЙ ОЗУ В ОПИСАНИЯ ЦИФРОВЫХ УСТРОЙСТВ НА ЯЗЫКЕ VHDL01Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроникиБелорусский государственный университет информатики и радиоэлектроникиРассматривается проблема описания моделей функциональных неисправностей оперативных запоминающих устройств при помощи языка VHDL. Предлагается методика внедрения моделей функциональных неисправностей ОЗУ в проектные описания цифровых устройств на языке VHDL. Показывается, что предложенная методика может быть применена для оценки поведения цифрового устройства при наличии в нем дефектов, а также для верификации алгоритмов тестирования и контроля ОЗУ.https://inf.grid.by/jour/article/view/564 |
| spellingShingle | ВНЕДРЕНИЕ ФУНКЦИОНАЛЬНЫХ НЕИСПРАВНОСТЕЙ ОЗУ В ОПИСАНИЯ ЦИФРОВЫХ УСТРОЙСТВ НА ЯЗЫКЕ VHDL Informatika |
| title | ВНЕДРЕНИЕ ФУНКЦИОНАЛЬНЫХ НЕИСПРАВНОСТЕЙ ОЗУ В ОПИСАНИЯ ЦИФРОВЫХ УСТРОЙСТВ НА ЯЗЫКЕ VHDL |
| title_full | ВНЕДРЕНИЕ ФУНКЦИОНАЛЬНЫХ НЕИСПРАВНОСТЕЙ ОЗУ В ОПИСАНИЯ ЦИФРОВЫХ УСТРОЙСТВ НА ЯЗЫКЕ VHDL |
| title_fullStr | ВНЕДРЕНИЕ ФУНКЦИОНАЛЬНЫХ НЕИСПРАВНОСТЕЙ ОЗУ В ОПИСАНИЯ ЦИФРОВЫХ УСТРОЙСТВ НА ЯЗЫКЕ VHDL |
| title_full_unstemmed | ВНЕДРЕНИЕ ФУНКЦИОНАЛЬНЫХ НЕИСПРАВНОСТЕЙ ОЗУ В ОПИСАНИЯ ЦИФРОВЫХ УСТРОЙСТВ НА ЯЗЫКЕ VHDL |
| title_short | ВНЕДРЕНИЕ ФУНКЦИОНАЛЬНЫХ НЕИСПРАВНОСТЕЙ ОЗУ В ОПИСАНИЯ ЦИФРОВЫХ УСТРОЙСТВ НА ЯЗЫКЕ VHDL |
| title_sort | внедрение функциональных неисправностей озу в описания цифровых устройств на языке vhdl |
| url | https://inf.grid.by/jour/article/view/564 |