Визначення ізоелектричної точки поверхнево-модифікованих оксидів металів у водних середовищах
Положення ізоелектричної точки водних суспензій оксидів/гідроксидів металів залежить від багатьох чинників, зокрема від параметрів кристалічної ґратки, її дефектності, наявності домішок. Оскільки ізоелектрична точка є інтегральною характеристикою електроповерхневих властивостей заряджених поверхонь...
Saved in:
| Main Authors: | , , |
|---|---|
| Format: | Article |
| Language: | English |
| Published: |
Chuiko Institute of Surface Chemistry of NAS of Ukraine
2025-06-01
|
| Series: | Хімія, фізика та технологія поверхні |
| Subjects: | |
| Online Access: | https://cpts.com.ua/index.php/cpts/article/view/773 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Summary: | Положення ізоелектричної точки водних суспензій оксидів/гідроксидів металів залежить від багатьох чинників, зокрема від параметрів кристалічної ґратки, її дефектності, наявності домішок. Оскільки ізоелектрична точка є інтегральною характеристикою електроповерхневих властивостей заряджених поверхонь амфотерних оксидів у їхніх водних суспензіях, то дослідження, направлені на її визначення, є актуальними.
Запропоновано новий підхід до визначення ізоелектричної точки для поверхнево-модифікованих оксидів металів, у яких іонізовані поверхневі гідроксильні групи у водному середовищі появляються не тільки внаслідок реакцій їхньої іонізації за участю рН-визначальних іонів Н+ та ОН–, а й інших реакцій. Суть цього підходу полягає в тому, що експериментально визначають залежність різниці рН суспензій та рН водних розчинів, на основі яких ці суспензії виготовлені, від рН вихідних водних розчинів. На основі цієї залежності методом найменших квадратів оцінюють чотири змінні параметри, які характеризують її, а саме: дві константи іонізації поверхневих гідроксильних груп, загальну концентрацію поверхневих гідроксильних груп, різницю часток іонізованих поверхневих гідроксильних груп, які не пов’язані із рН-визначальними іонами Н+ і ОН–. За одержаними результатами обґрунтовано рівняння, яке дозволяє за знайденими змінними параметрами оцінити положення ізоелектричної точки для поверхнево-модифікованих оксидів металів у їхніх водних суспензіях. У випадку, коли наявність іонізованих поверхневих гідроксильних груп пов’язана тільки із рН-визначальними іонами Н+ та ОН–, запропоноване рівняння спрощується до класичного рівняння.
Застосування одержаного рівняння проілюстровано на прикладі визначення ізоелектричної точки водних суспензій модифікованого діоксиду титану.
|
|---|---|
| ISSN: | 2079-1704 2518-1238 |