Investigating the Temperature Effects on ZnO, TiO2, WO3 and HfO2 Based Resistive Random Access Memory (RRAM) Devices by T.D. Dongale, K.V. Khot, S.V. Mohite, S.S. Khandagale, S.S. Shinde, V.L. Patil, S.A. Vanalkar, A.V. Moholkar, K.Y. Rajpure, P.N. Bhosale, P.S. Patil, P.K. Gaikwad, R.K. Kamat

Get full text