ОПРЕДЕЛЕНИЕ ТЕСТОВЫХ НАБОРОВ ДЛЯ ОБНАРУЖЕНИЯ НЕИСПРАВНОСТЕЙ АДРЕСНЫХ ЛИНИЙ ОЗУ (Informatika)
Предлагается подход к определению тестовых наборов для обнаружения неисправностей адресных линий оперативных запоминающих устройств (ОЗУ). Приведенные в статье теоретические и экспериментальные результаты показывают, что данный подход позволяет существенно сократить количество тестовых наборов, необходимых для обнаружения всех неисправностей  адресных линий ОЗУ, по сравнению с существующими маршевыми алгоритмами.